2026年3月12日，高端装备界面科学与技术全国重点实验室开放测试平台在清华大学李兆基科技大楼A404报告厅，成功举办了第二期测试技术系列讲座。本次活动以“纳米尺度下的表面形貌光学表征方法：白光干涉与共聚焦扫描技术及应用”为主题，采用线上线下相结合的方式，吸引校内外60余名师生及科研工作者参与。

讲座由实验室王榕工程师主持，特邀深圳市中图仪器股份有限公司产品总监刘见桥为主讲嘉宾。刘见桥总监系统深入地讲解了白光干涉与共聚焦扫描技术的基本原理、前沿研究进展及实用操作技巧，并结合丰富的应用案例，生动展示了这两项技术在微观表面形貌表征中的关键作用。在互动交流环节，主讲嘉宾结合自身实践经验，给予了专业、细致的解答。

本次讲座聚焦纳米尺度表面形貌表征的关键核心技术，旨在让广大师生了解和掌握三维白光干涉形貌仪与共聚焦显微镜的相关基础知识和运用技巧，提升其在相关研究领域的专业能力。未来，实验室开放测试平台将持续举办系列讲座，搭建高水平的技术交流平台，助力科研工作者突破技术瓶颈，推动高端装备界面科学与技术领域的创新发展。

撰 稿 | 王 榕

校 稿 | 徐 军  张 琳

编 辑 | 李双秀

审 核 | 解国新